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應力雙折射測量係統WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體製造技術開發的產品，的測量技術使其成為的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度顯微雙折射與應力測量係統，可搭載商用顯微鏡，實現 0–130 nm 相位差、光軸方位的全場高速定量檢測，精度達 0.1 nm 級，Photonic lattice顯微鏡型應力雙折射儀支持將測量結果換算為應力值，廣泛用於光學玻璃、TGV孔的內應力與雙折射分布分析，兼具高精度、麵成像與易用性，是精密光學質檢的核心設備。

紅外應力雙折射測量係統WPA-NIR硫係，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘餘應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研製了WPA-NIR91香蕉视频在线播放，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘餘應力分布。

玻璃應力雙折射測量係統PA係列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由於玻璃內外溫度不同，或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力的存在，破壞了各向同性，產生雙折射現象，即內部應力的分布現象，現在利用測量雙折射現象來改進光學玻璃的生產工藝，以及用來對光學玻璃的質量控製，成為世界光學玻璃廠商的手段。

PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息，作為一個正常的圖像，並在高分辨率。 它們被應用在許多領域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實時偏振監測等。 除了PI功能可以記錄線偏振度（DOLP）和主軸方向角，WPI還可以全麵記錄Stokes參數和偏振度（DOP），這在部分偏振情況下是必要的。

玻璃內應力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA係列測量雙折射測量範圍達0-130nm，可以測量的樣品範圍從幾個毫米到近500毫米。PA係列91香蕉视频在线播放以其技術的光子晶體偏光陣列片，高精度同步協調的雙折射算法設計製造，得到每片樣品僅需幾秒鍾的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。